400-808-1701

(0)

首頁工程技術(shù)期刊期刊介紹(非官網(wǎng))

數(shù)據(jù)庫收錄SCIE
創(chuàng)刊年份1966年
年發(fā)文量304
H-index197

Ieee Journal Of Solid-state Circuits

期刊中文名：IEEE固態(tài)電路雜志ISSN：0018-9200E-ISSN：1558-173X

該雜志國際簡稱：IEEE J SOLID-ST CIRC，是由出版商Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的一本致力于發(fā)布工程技術(shù)研究新成果的的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊。該雜志以ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC研究為重點，主要發(fā)表刊登有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文文章、行業(yè)最新科研成果，扼要報道階段性研究成果和重要研究工作的最新進(jìn)展，選載對學(xué)科發(fā)展起指導(dǎo)作用的綜述與專論，促進(jìn)學(xué)術(shù)發(fā)展，為廣大讀者服務(wù)。該刊是一本國際優(yōu)秀雜志，在國際上有很高的學(xué)術(shù)影響力。

基本信息：: 期刊簡稱：IEEE J SOLID-ST CIRC; 是否OA：未開放; 是否預(yù)警：否; Gold OA文章占比：13.89%

出版信息：: 出版地區(qū)：UNITED STATES; 出版周期：Monthly; 出版語言：English; 出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

評價信息：: 中科院分區(qū)：1區(qū); JCR分區(qū)：Q1; 影響因子：4.6; CiteScore：11

投稿咨詢加急咨詢

雜志介紹中科院JCR分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 投稿經(jīng)驗

雜志介紹

Ieee Journal Of Solid-state Circuits雜志介紹

《Ieee Journal Of Solid-state Circuits》是一本以English為主的未開放獲取國際優(yōu)秀期刊，中文名稱IEEE固態(tài)電路雜志，本刊主要出版、報道工程技術(shù)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域的研究動態(tài)以及在該領(lǐng)域取得的各方面的經(jīng)驗和科研成果，介紹該領(lǐng)域有關(guān)本專業(yè)的最新進(jìn)展，探討行業(yè)發(fā)展的思路和方法，以促進(jìn)學(xué)術(shù)信息交流，提高行業(yè)發(fā)展。該刊已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄，為該領(lǐng)域相關(guān)學(xué)科的發(fā)展起到了良好的推動作用，也得到了本專業(yè)人員的廣泛認(rèn)可。該刊最新影響因子為4.6，最新CiteScore 指數(shù)為11。

本刊近期中國學(xué)者發(fā)表的論文主要有：

Configurable Hybrid Energy Synchronous Extraction Interface With Serial Stack Resonance for Multi-Source Energy Harvesting
Author: Wang, Xiudeng; Xia, Yinshui; Zhu, Zhangming; Shi, Ge; Xia, Huakang; Ye, Yidie; Chen, Zhidong; Qian, Libo; Liu, Lianxi
A D-Band Joint Radar-Communication CMOS Transceiver
Author: Deng, Wei; Chen, Zipeng; Jia, Haikun; Guan, Pingda; Ma, Taikun; Yan, Angxiao; Sun, Shiyan; Huang, Xiangrong; Chen, Guopei; Ma, Ruichang; Dong, Shengnan; Duan, Luqiang; Wang, Zhihua; Chi, Baoyong
A 60-MS/s 5-MHz BW Noise-Shaping SAR ADC With Integrated Input Buffer Achieving 84.2-dB SNDR and 97.3-dB SFDR Using Dynamic Level-Shifting and ISI-Error Correction
Author: Guo, Yuekang; Jin, Jing; Liu, Xiaoming; Zhou, Jianjun
A 211-to-263-GHz Dual-LC-Tank-Based Broadband Power Amplifier With 14.7-dBm P-SAT and 16.4-dB Peak Gain in 130-nm SiGe BiCMOS
Author: Yu, Jiayang; Chen, Jixin; Zhou, Peigen; Li, Huanbo; Wang, Zuojun; Li, Zekun; Chen, Zhe; Yan, Pinpin; Hou, Debin; Gao, Hao; Hong, Wei

英文介紹

Ieee Journal Of Solid-state Circuits雜志英文介紹

The IEEE Journal of Solid-State Circuits publishes papers each month in the broad area of solid-state circuits with particular emphasis on transistor-level design of integrated circuits. It also provides coverage of topics such as circuits modeling, technology, systems design, layout, and testing that relate directly to IC design. Integrated circuits and VLSI are of principal interest; material related to discrete circuit design is seldom published. Experimental verification is strongly encouraged.

中科院SCI分區(qū)

Ieee Journal Of Solid-state Circuits雜志中科院分區(qū)信息

2023年12月升級版

綜述：否

TOP期刊：是

大類：工程技術(shù) 1區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 1區(qū)

2022年12月升級版

綜述：否

TOP期刊：是

大類：工程技術(shù) 1區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 1區(qū)

2021年12月舊的升級版

綜述：否

TOP期刊：是

大類：工程技術(shù) 1區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 1區(qū)

2021年12月基礎(chǔ)版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術(shù) 2區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 2區(qū)

2021年12月升級版

綜述：否

TOP期刊：是

大類：工程技術(shù) 1區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 1區(qū)

2020年12月舊的升級版

綜述：否

TOP期刊：是

大類：工程技術(shù) 1區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 1區(qū)

中科院SCI分區(qū)：是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報中心科學(xué)計量中心的科學(xué)研究成果。期刊分區(qū)表自2004年開始發(fā)布，延續(xù)至今；2019年推出升級版，實現(xiàn)基礎(chǔ)版、升級版并存過渡，2022年只發(fā)布升級版，期刊分區(qū)表數(shù)據(jù)每年底發(fā)布。中科院分區(qū)為4個區(qū)。中科院分區(qū)采用刊物前3年影響因子平均值進(jìn)行分區(qū),即前5%為該類1區(qū)，6%～20%為2區(qū)、21%～50%為3區(qū)，其余的為4區(qū)。1區(qū)和2區(qū)雜志很少，雜志質(zhì)量相對也高，基本都是本領(lǐng)域的頂級期刊。

JCR分區(qū)（2023-2024年最新版）

Ieee Journal Of Solid-state Circuits雜志 JCR分區(qū)信息

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)

學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

收錄子集：SCIE

分區(qū)：Q1

排名：74 / 352

百分位：

79.1%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)

學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

收錄子集：SCIE

分區(qū)：Q1

排名：66 / 354

百分位：

81.5%

JCR分區(qū)：JCR分區(qū)來自科睿唯安公司,JCR是一個獨特的多學(xué)科期刊評價工具，為唯一提供基于引文數(shù)據(jù)的統(tǒng)計信息的期刊評價資源。每年發(fā)布的JCR分區(qū)，設(shè)置了254個具體學(xué)科。JCR分區(qū)根據(jù)每個學(xué)科分類按照期刊當(dāng)年的影響因子高低將期刊平均分為4個區(qū)，分別為Q1、Q2、Q3和Q4，各占25%。JCR分區(qū)中期刊的數(shù)量是均勻分為四個部分的。

CiteScore 評價數(shù)據(jù)（2024年最新版）

Ieee Journal Of Solid-state Circuits雜志CiteScore 評價數(shù)據(jù)

CiteScore 值：11
SJR：2.876
SNIP：2.612

學(xué)科類別	分區(qū)	排名	百分位
大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q1	78 / 797	90%

歷年影響因子和期刊自引率

投稿經(jīng)驗

Ieee Journal Of Solid-state Circuits雜志投稿經(jīng)驗

該雜志是一本國際頂級雜志，在工程技術(shù)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學(xué)科領(lǐng)域中屬于核心刊物，是能夠綜合反映該學(xué)科領(lǐng)域當(dāng)前最高發(fā)展水平的學(xué)術(shù)期刊。在國際上有很高的學(xué)術(shù)影響力，行業(yè)關(guān)注度很高，已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄，該雜志在ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC綜合專業(yè)領(lǐng)域?qū)I(yè)度認(rèn)可很高，對稿件內(nèi)容的創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)性要求非常高，作為一本國際頂級雜志，一般投稿過審時間都較長，投稿過審時間平均一般,3-6周，如果想投稿該刊要做好時間安排。版面費(fèi)不祥。該雜志近兩年未被列入預(yù)警名單，建議您投稿。如您想了解更多投稿政策及投稿方案，請咨詢客服。