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            Quantitative Infrared Thermography Journal
            收藏雜志
            • 數(shù)據(jù)庫收錄SCIE
            • 創(chuàng)刊年份2004年
            • 年發(fā)文量25
            • H-index18

            Quantitative Infrared Thermography Journal

            期刊中文名:定量紅外熱成像雜志ISSN:1768-6733E-ISSN:2116-7176

            該雜志國際簡稱:QIRT J,是由出版商Taylor and Francis Ltd.出版的一本致力于發(fā)布工程技術(shù)研究新成果的的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊。該雜志以MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING研究為重點(diǎn),主要發(fā)表刊登有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文文章、行業(yè)最新科研成果,扼要報道階段性研究成果和重要研究工作的最新進(jìn)展,選載對學(xué)科發(fā)展起指導(dǎo)作用的綜述與專論,促進(jìn)學(xué)術(shù)發(fā)展,為廣大讀者服務(wù)。該刊是一本國際優(yōu)秀雜志,在國際上有很高的學(xué)術(shù)影響力。

            基本信息:
            期刊簡稱:QIRT J
            是否OA:未開放
            是否預(yù)警:
            Gold OA文章占比:11.76%
            出版信息:
            出版地區(qū):FRANCE
            出版周期:Semiannual
            出版語言:English
            出版商:Taylor and Francis Ltd.
            評價信息:
            中科院分區(qū):3區(qū)
            JCR分區(qū):Q1
            影響因子:3.7
            CiteScore:6.8
            雜志介紹 中科院JCR分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 投稿經(jīng)驗

            雜志介紹

            Quantitative Infrared Thermography Journal雜志介紹

            《Quantitative Infrared Thermography Journal》是一本以English為主的未開放獲取國際優(yōu)秀期刊,中文名稱定量紅外熱成像雜志,本刊主要出版、報道工程技術(shù)-MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING領(lǐng)域的研究動態(tài)以及在該領(lǐng)域取得的各方面的經(jīng)驗和科研成果,介紹該領(lǐng)域有關(guān)本專業(yè)的最新進(jìn)展,探討行業(yè)發(fā)展的思路和方法,以促進(jìn)學(xué)術(shù)信息交流,提高行業(yè)發(fā)展。該刊已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄,為該領(lǐng)域相關(guān)學(xué)科的發(fā)展起到了良好的推動作用,也得到了本專業(yè)人員的廣泛認(rèn)可。該刊最新影響因子為3.7,最新CiteScore 指數(shù)為6.8。

            英文介紹

            Quantitative Infrared Thermography Journal雜志英文介紹

            The Quantitative InfraRed Thermography Journal (QIRT) provides a forum for industry and academia to discuss the latest developments of instrumentation, theoretical and experimental practices, data reduction, and image processing related to infrared thermography.

            中科院SCI分區(qū)

            Quantitative Infrared Thermography Journal雜志中科院分區(qū)信息

            2023年12月升級版
            綜述:
            TOP期刊:
            大類:工程技術(shù) 3區(qū)
            小類:

            MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            材料科學(xué):表征與測試 2區(qū)

            INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            儀器儀表 3區(qū)

            PHYSICS, APPLIED
            物理:應(yīng)用 3區(qū)

            2022年12月升級版
            綜述:
            TOP期刊:
            大類:工程技術(shù) 4區(qū)
            小類:

            INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            儀器儀表 4區(qū)

            MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            材料科學(xué):表征與測試 4區(qū)

            PHYSICS, APPLIED
            物理:應(yīng)用 4區(qū)

            2021年12月舊的升級版
            綜述:
            TOP期刊:
            大類:工程技術(shù) 4區(qū)
            小類:

            INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            儀器儀表 4區(qū)

            MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            材料科學(xué):表征與測試 4區(qū)

            PHYSICS, APPLIED
            物理:應(yīng)用 4區(qū)

            2021年12月基礎(chǔ)版
            綜述:
            TOP期刊:
            大類:工程技術(shù) 4區(qū)
            小類:

            INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            儀器儀表 4區(qū)

            MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            材料科學(xué):表征與測試 4區(qū)

            PHYSICS, APPLIED
            物理:應(yīng)用 4區(qū)

            2021年12月升級版
            綜述:
            TOP期刊:
            大類:工程技術(shù) 4區(qū)
            小類:

            INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            儀器儀表 4區(qū)

            MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            材料科學(xué):表征與測試 4區(qū)

            PHYSICS, APPLIED
            物理:應(yīng)用 4區(qū)

            2020年12月舊的升級版
            綜述:
            TOP期刊:
            大類:工程技術(shù) 3區(qū)
            小類:

            MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            材料科學(xué):表征與測試 2區(qū)

            INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            儀器儀表 3區(qū)

            PHYSICS, APPLIED
            物理:應(yīng)用 3區(qū)

            中科院SCI分區(qū):是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報中心科學(xué)計量中心的科學(xué)研究成果。期刊分區(qū)表自2004年開始發(fā)布,延續(xù)至今;2019年推出升級版,實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)版、升級版并存過渡,2022年只發(fā)布升級版,期刊分區(qū)表數(shù)據(jù)每年底發(fā)布。 中科院分區(qū)為4個區(qū)。中科院分區(qū)采用刊物前3年影響因子平均值進(jìn)行分區(qū),即前5%為該類1區(qū),6%~20%為2區(qū)、21%~50%為3區(qū),其余的為4區(qū)。1區(qū)和2區(qū)雜志很少,雜志質(zhì)量相對也高,基本都是本領(lǐng)域的頂級期刊。

            JCR分區(qū)(2023-2024年最新版)

            Quantitative Infrared Thermography Journal雜志 JCR分區(qū)信息

            按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)
            學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            收錄子集:SCIE
            分區(qū):Q1
            排名:17 / 76
            百分位:

            78.3%

            學(xué)科:MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            收錄子集:SCIE
            分區(qū):Q1
            排名:6 / 38
            百分位:

            85.5%

            學(xué)科:PHYSICS, APPLIED
            收錄子集:SCIE
            分區(qū):Q2
            排名:56 / 179
            百分位:

            69%

            按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)
            學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
            收錄子集:SCIE
            分區(qū):Q1
            排名:18 / 76
            百分位:

            76.97%

            學(xué)科:MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
            收錄子集:SCIE
            分區(qū):Q1
            排名:7 / 38
            百分位:

            82.89%

            學(xué)科:PHYSICS, APPLIED
            收錄子集:SCIE
            分區(qū):Q2
            排名:45 / 179
            百分位:

            75.14%

            JCR分區(qū):JCR分區(qū)來自科睿唯安公司,JCR是一個獨(dú)特的多學(xué)科期刊評價工具,為唯一提供基于引文數(shù)據(jù)的統(tǒng)計信息的期刊評價資源。每年發(fā)布的JCR分區(qū),設(shè)置了254個具體學(xué)科。JCR分區(qū)根據(jù)每個學(xué)科分類按照期刊當(dāng)年的影響因子高低將期刊平均分為4個區(qū),分別為Q1、Q2、Q3和Q4,各占25%。JCR分區(qū)中期刊的數(shù)量是均勻分為四個部分的。

            CiteScore 評價數(shù)據(jù)(2024年最新版)

            Quantitative Infrared Thermography Journal雜志CiteScore 評價數(shù)據(jù)

            • CiteScore 值:6.8
            • SJR:1.053
            • SNIP:1.861
            學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
            大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation Q1 26 / 141

            81%

            大類:Physics and Astronomy 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 181 / 797

            77%

            歷年影響因子和期刊自引率

            投稿經(jīng)驗

            Quantitative Infrared Thermography Journal雜志投稿經(jīng)驗

            該雜志是一本國際優(yōu)秀雜志,在國際上有較高的學(xué)術(shù)影響力,行業(yè)關(guān)注度很高,已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄,該雜志在MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING綜合專業(yè)領(lǐng)域?qū)I(yè)度認(rèn)可很高,對稿件內(nèi)容的創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)性要求很高,作為一本國際優(yōu)秀雜志,一般投稿過審時間都較長,投稿過審時間平均 ,如果想投稿該刊要做好時間安排。版面費(fèi)不祥。該雜志近兩年未被列入預(yù)警名單,建議您投稿。如您想了解更多投稿政策及投稿方案,請咨詢客服。

            免責(zé)聲明

            若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:2-4 PARK SQUARE, MILTON PARK, ABINGDON, England, OXON, OX14 4RN。

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